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技術(shù)專題
可測試性的PCB設(shè)計，以確保高產(chǎn)量和高質(zhì)量
為可測試性實踐實施正確的設(shè)計需要正確的設(shè)計軟件和文檔。由于可測試性設(shè)計對于復(fù)雜設(shè)計非常重要，因此有助于了解為成功進(jìn)行裸板測試和ICT而應(yīng)在板上實施哪些測試結(jié)構(gòu)。正確的測試結(jié)構(gòu)和文檔可以確保您的下一批復(fù)雜電路板從制造/裝配線中脫穎而出。
可測試性設(shè)計：考慮測試方法
可測試性設(shè)計是一種平衡行為，需要適應(yīng)不同的測試方法而不會影響功能。這可以很簡單，只需在布局中指定某些焊盤或通孔作為測試點，即可在布局/示意圖中注明預(yù)期的電氣功能（例如，電壓，電流，電阻或阻抗）。在某些情況下，您可能需要創(chuàng)建一個自定義焊盤作為no-BOM組件，并在原理圖中的網(wǎng)上指定一個特定的測試點。兩種方法都適用于大多數(shù)不是以極高的速度或頻率運行的電路。
以高速/高頻運行或使用專門的互連結(jié)構(gòu)的更高級的設(shè)計，可以受益于放置專門用于特定信號完整性測量的測試結(jié)構(gòu)。如果需要在設(shè)計過程中確保高度精確的互連阻抗，則可能需要訂購具有預(yù)期互連結(jié)構(gòu)的測試樣片。這是在大規(guī)模生產(chǎn)電路板之前驗證設(shè)計關(guān)鍵部分（布線和阻抗）的低成本方法?；ミB阻抗在線測試的補充是邊界掃描（JTAG）測試。
要考慮的另一個方面是功能測試，這是成品板的最后測試線。這部分測試是高度模塊化的，需要適應(yīng)各種不同的設(shè)計。在功能測試中，將檢查電路板的實際功能，這可能會涉及不同程度的復(fù)雜性。任何功能測試都需要針對您的制造商進(jìn)行仔細(xì)詳細(xì)的介紹，并可能需要提供上裝測試環(huán)境，嵌入式軟件或其他設(shè)備以進(jìn)行正確的測試。
測試點
測試點通常用于裸板測試或ICT中，并被指定為具有特定功能要求的關(guān)鍵點。您的測試點只是電氣觸點，制造商可以從網(wǎng)表或通過檢查原理圖來確定所需的裸板功能（例如，開路）。在ICT期間，可以在測試過程中使用飛針式探頭輕松測量電路支路上的電壓，并將測量結(jié)果與您的設(shè)計要求進(jìn)行比較?？梢栽谠韴D中的焊盤或過孔上指定測試點，也可以將它們作為定制的焊盤放置在布局中。確保為您的原理圖添加測試點所需的任何電氣功能。
測試結(jié)構(gòu)
盡管測試結(jié)構(gòu)通常被設(shè)計用于收集精確的信號完整性測量，但這更多地是包括定制焊盤的通用術(shù)語。諸如定制墊之類的簡單測試點在高頻下可以像短截線（即天線）一樣工作，因此在高頻設(shè)計中并不需要它們，因為它們會強烈輻射。但是，使用標(biāo)準(zhǔn)化的測試結(jié)構(gòu)可以進(jìn)行高精度的在線信號完整性測試以及高速和高頻率的裸板測試。
邊界掃描測試
通常，通過利用組件供應(yīng)商提供的軟件，JTAG越來越多地用于嵌入式系統(tǒng)的功能測試中，從而無需編寫任何功能測試代碼即可快速診斷互連上的問題。JTAG嵌入式測試（JET）是在嵌入式系統(tǒng)中的處理器上使用標(biāo)準(zhǔn)JTAG端口進(jìn)行功能測試的便捷方法。這樣一來，嵌入式系統(tǒng)就可以在首次加電時進(jìn)行測試，而無需等待系統(tǒng)完全啟動。
邊界掃描的優(yōu)勢在于，它降低了測試點和用于檢查電氣行為的驗證結(jié)構(gòu)的可靠性。大多數(shù)MCU / PLD / FPGA制造商已將邊界掃描邏輯和附加電路與標(biāo)準(zhǔn)四線接口結(jié)合在一起，以便在系統(tǒng)中對其設(shè)備進(jìn)行編程。將邊界掃描帶入功能測試對于評估HDI板，高層計數(shù)板，安裝在BGA上的關(guān)鍵組件以及在內(nèi)層上進(jìn)行布線的功能以及其他現(xiàn)代設(shè)備的功能至關(guān)重要。